A inspeção de raios-X é usar a tecnologia de imagem de raios-X para obter a estrutura interna do objeto de teste e, em seguida, observar as informações internas do objeto de teste sem quebrar o objeto de teste.

É usado principalmente para julgamento de autenticidade e análise de falhas dos componentes.É um método reconhecido internacionalmente para julgamento e análise de falhas da autenticidade do CHIP.

A tecnologia de detecção de raios-X tem as vantagens de velocidade rápida, não destrutiva e baixo custo na detecção de autenticidade de chips.

Detecção de falhas de chip:

Através de imagens de raios-X, observe visualmente os defeitos internos, descascando, estourando, vazios, etc. do chip e ajude no julgamento do fracasso do chip.

Julgamento de autenticidade do chip:

A autenticidade pode ser julgada comparando o quadro, grão, fio de chumbo e outros elementos no diagrama de raios-X da peça de teste com o chip padrão;